Article Dans Une Revue
Microsystem Technologies
Année : 2014
Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://ujm.hal.science/ujm-01069222
Soumis le : lundi 29 septembre 2014-08:46:27
Dernière modification le : jeudi 23 avril 2026-14:50:04
Citer
H. Hirshy, S. G. Scholz, Yves Jourlin, S. Tonchev, S. Reynaud, et al.. 2N Period submicron grating at the inner wall of a metal cylinder. Microsystem Technologies, 2014, 20 (10), pp.1432-1858. ⟨10.1007/s00542-013-1949-y⟩. ⟨ujm-01069222⟩
Collections
166
Consultations
0
Téléchargements
