Anodized titanium oxide thickness estimation with ellipsometry, reflectance spectra extrema positions and electronic imaging: importance of the interfaces electromagnetic phase-shift
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| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Soumis le : jeudi 16 juin 2022-08:05:01
Dernière modification le : jeudi 23 avril 2026-14:50:05