Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie - Université Jean-Monnet-Saint-Étienne Access content directly
Conference Papers Year : 2006

Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie

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Dates and versions

ujm-00292136 , version 1 (30-06-2008)

Identifiers

  • HAL Id : ujm-00292136 , version 1

Cite

Issam Gereige, Stéphane Robert, Damien Jamon, Jean Jacques Rousseau, Chadi Nader. Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie. CSM5, May 2006, Beyrouth, Lebanon. ⟨ujm-00292136⟩
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