Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
Yves Jourlin : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://ujm.hal.science/ujm-00358882
Soumis le : mercredi 4 février 2009-17:11:52
Dernière modification le : mardi 9 juillet 2024-11:00:04
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Identifiants
- HAL Id : ujm-00358882 , version 1
Citer
Yves Jourlin. Technologie de fabrication et métrologie des réseaux de diffraction de grandes surfaces et de période sub-micrométrique. 1ere rencontres recherche-industrie en nanométrologie, Nov 2007, paris, France. ⟨ujm-00358882⟩
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