Article Dans Une Revue
Microwave and Optical Technology Letters
Année : 2011
Bernard Bayard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://ujm.hal.science/ujm-00802509
Soumis le : mercredi 20 mars 2013-08:42:05
Dernière modification le : lundi 3 avril 2023-18:16:08
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : ujm-00802509 , version 1
Citer
Frank Gambou, Bernard Bayard, Gérard Noyel. Characterization of material anisotropy using microwave ellipsometry. Microwave and Optical Technology Letters, 2011, 53 (9), pp.1996-1998. ⟨ujm-00802509⟩
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