Article Dans Une Revue
Microwave and Optical Technology Letters
Année : 2019
Bernard Bayard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://ujm.hal.science/ujm-02021941
Soumis le : samedi 16 février 2019-22:45:30
Dernière modification le : mardi 9 juillet 2024-11:00:04
Citer
Radwan Dib, Didier Vincent, Ahmad Elrafhi. Measurement of the electromagnetic properties of thin‐films using a microwave resonant cavity. Microwave and Optical Technology Letters, 2019, 61 (1), pp.15-19. ⟨10.1002/mop.31499⟩. ⟨ujm-02021941⟩
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